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3430-SW     ダイナミックテストシステム

本機は、IGBT/MOSFETのダイナミック特性を高速に試験するためのテストシステムです。
3430-SW本体と各測定項目別に用意された測定ステーションを接続することで、最大4ステーションのパラレル測定が可能となります(標準2ステーション)。
1台のPCでテストシステム全体のコントロールを行ないます。
 
 
 

特徴
・低インピーダンス構造で理想的な波形が再現できます。
・波形解析の高速化により、測定時間を大幅に短縮
 (弊社従来モデル対比)しています。
 

 スイッチングタイム測定
I-Short 測定
trr 測定
VCE
30~1,500 V(1V Step)
30~1,500 V(1V Step)30~1,500 V(1V Step)
IC
1~300 A(1A Step)
1~1,000 A(1A Step)1~300 A(1A Step)
IC Trip
1~300 A(1A Step)

1~300 A(1A Step)
IC max
1~1,000 A(1A Step)
1~1,000 A(1A Step)1~1,000 A(1A Step)
VGE
±30.0 V(0.1V Step)±30.0 V(0.1V Step)±30.0 V(0.1V Step)
RG
1~250Ω(1Ω Step)
1~250Ω(1Ω Step)1~250Ω(1Ω Step)
Pulse
Single/Double
SingleDouble
T1
000.1μ~50.0 ms(0.1μs Step)000.1~50.0μs(0.1μs Step)000.1μ~50.0 ms(0.1μs Step)
T2
000.1~999.9μs(0.1μs Step)000.1~999.9μs(0.1μs Step)
T3
000.1~999.9μs(0.1μs Step)
000.1~999.9μs(0.1μs Step)
R Load
Plug in
L Load
Plug inPlug in
Pre checkGS Short/Open/Short/LeakGS Short/Open/Short/LeakVdsf(D.U.T)/ GS Short /Open/Short/Leak(Dummy)
Post check
LeakLeak
Leak(Dummy)
Test Itemtd(on)/td(off)/ton/toff/tr/tf/Eon/Eoff/IC0 SC
trr/ trr1/ trr2/ Irr/ Qrr/ Qrr1/ Qrr2/ IF/ dIF/dt/ dI(rec)M/dt
Test Time
230 ms
140 ms250 ms
DSOLT364(LeCroy)
LT364(LeCroy)
 
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