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テストシステム |
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各種ディスクリートデバイス(個別半導体)の電気特性を高速・高精度に測定するテストシステムです。
パソコンの搭載で、ウィンドウズの画面上で対話形式によるテストプログラムを簡単に作成でき、ネットワークにも接続できます。
特に大電流、高電圧に対応するテストシステムでは高度な計測技術により優れた性能を誇り、長年にわたって高シェアを維持しています。また、ロジックICを対象としたDC測定、時間測定、ファンクション測定などの分野もカバーしています。
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| 製 品 |
対象デバイス |
 ディスクリートデバイス テストシステム |
ダイオード、トランジスタ、FET、デュアルゲートFET、MOSFET、サイリスタ、
ボルテージレギュレータ、IGBT、サイリスタ、トライアック、オプトデバイス、各種アレー |
| 熱抵抗テスタ |
トランジスタ（ダーリントンを含む）、MOSFET、IGBT、ダイオード |
| L負荷テスタ |
トランジスタ（ダーリントンを含む）、MOSFET |
| ダイナミックテストシステム |
IGBT、MOSFET |
| IPD/IPMテストシステム |
IPD(HIGH/LOW SIDE SWITCH、待機電力用IC、HVIC、各種ドライバIC、その他パワーIC)、
IPM(インバータ用途パワーIC)、個別半導体(ダイオード、トランジスタ、FET、IGBT、
ボルテージレギュレータなど)、各種アレー、複合素子など |
| 内部ゲート寄生抵抗テスタ |
MOSFET |
| ゲートチャージテスタ |
MOSFET |
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ハンドラ |
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接続されたテスタから測定データを受け、設定されたレベルに応じて各種半導体デバイスを自動的に分類、選別する装置です。
チェンジキットによりデバイスの形状、サイズ、重さなどの変化にも柔軟に対応でき同時にコンパクト設計、シンプル機構、優れた操作性、低価格を実現。
対象半導体の種類、用途によっては温度試験対応などの機能が付加され、さらに半導体製造の後工程となるリード切断やマーキングを同時に行う一貫システムも充実しています。
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