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基板框架测试分选机 | 支持多工位同时测量与高温/低温测试
5880-IH
5880-IH是一款高性能基板框架测试分选机(Strip Frame Test Handler)。无需将基板框架上的半导体器件切片分割即可直接进行检测。通过高载荷、高精度平台与先进位置补偿技术的结合,实现多工位同时测量的高吞吐量检测。有助于提升量产工序的生产能力并降低检测成本,从而提高半导体制造现场的整体效率。
此外,它还支持-55°C至+170°C的高温与低温测试,实现高可靠性的量产检测。作为SO封装及QFN器件基板检测的最佳解决方案,为高质量半导体产品的稳定供应提供有力支撑。
特点
・通过多工位同时测量实现高吞吐量
通过多工位测量,提高量产线的生产效率。
・高精度对准功能
利用位置补偿与高度补偿技术,保持稳定的接触品质。
・支持高温・低温可靠性测试
支持-55°C至+170°C的温度环境测试,有助于提高量产检测的可靠性。
・无卡料(JAM-Free)输送
通过稳定的器件输送,即使长时间运行也能保持高稼动率。
・支持智能工厂
支持SECS/GEM、条形码/二维码管理以及AGV,可轻松集成至自动化生产线中。
| Item | Specifications |
适用封装 |
SO、QFN |
适用条框尺寸 |
最大 300mm × 100mm |
测试区域 |
最大 150mm × 100mm |
接触方式 |
弹簧探针、探针卡 |
输入 |
4个料盒 |
输出 |
4个料盒 |
高温/低温测试 |
-55℃ ~ +170℃ |
冷却·加热方式 |
冷却或加热卡盘工作台 |
冷却源 |
低温空气循环(无需液氮) 或液氮 |
加热源 |
加热器直接加热 |
温度精度 |
±1℃(卡盘工作台表面温度) |
Index |
Device index:170ms Stip index:1.9sec” |
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Contact
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代表tel.042-566-1111
8:30 ~ 17:30
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