4408-KT

4408-KTは、GaN HEMTをはじめとする次世代パワー半導体デバイスの過渡熱抵抗（Transient Thermal Resistance）を高精度に測定する熱特性評価システムです。温度変化に伴うVGS変動量（ΔVGS）を利用して熱抵抗特性を評価し、デバイスの発熱特性や放熱性能を定量的に解析します。GaNパワーデバイスの研究開発、品質保証、量産工程における熱特性評価に最適なソリューションです。
EV向け電源システム、高効率パワーコンバータ、産業機器向けGaNパワーデバイスなど、高密度実装が進む半導体市場において、熱設計の重要性はますます高まっています。4408-KTは、熱抵抗（Rth）および温度上昇量（ΔT）を高速かつ高精度に測定し、デバイス性能と信頼性向上を支援します。

特徴

・GaN HEMTの過渡熱抵抗評価に対応
　ΔVGSを利用した高感度測定により、GaNデバイスの熱特性を高精度に評価します。
・熱抵抗（Rth）と温度上昇量（ΔT）を自動演算
　測定結果から熱抵抗値や温度上昇量を算出し、評価作業を効率化します。
・パワーデバイスの熱設計・信頼性評価を支援
　開発段階の熱解析から量産時の品質管理まで幅広く対応します。
・TESEC製DCテスタとの連携
　既存のDCテストシステムと組み合わせて効率的な評価環境を構築できます。
・外部制御・データ収集に対応
　GPIBおよびRS-232Cインターフェースにより、自動評価システムへの組込みが可能です。


■ソフトウエアオプション例
・PCによるテスタコントロールソフトウエア
　（テストプログラム作成、データ収集、カウンタ収集)
・機能チェックユニットを用いた測定データ収集ソフトウェア