ストリップフレームテストハンドラ | 多数個同時測定・高温/低温試験対応

5880-IH
Strip Frame Handling

5880-IH

5880-IHは、高性能なストリップフレームテストハンドラです。ストリップフレーム上の半導体デバイスを、個片化することなく検査できます。高耐荷重・高精度ステージと高度な位置補正技術の組み合わせにより、多数個同時測定による高スループット検査を実現します。量産工程における生産能力向上と検査コスト削減に貢献し、半導体製造現場の効率化にもつながります。
また、-55℃~+170℃の高温・低温試験にも対応し、信頼性の高い量産検査を実現します。SOパッケージやQFNデバイスのストリップ検査に最適なソリューションとして、高品質な半導体製品の安定供給を支えます。

特徴

・多数個同時測定による高スループット
 マルチサイト測定により、量産ラインの生産性を高めます。
・高精度アライメント機能
 位置補正・高さ補正技術により、安定したコンタクト品質を維持します。
・高温・低温信頼性試験対応
 -55℃~+170℃の温度環境試験に対応し、量産検査における信頼性向上に貢献します。
・JAMフリー搬送
 安定したデバイス搬送により、長時間運転でも高い稼働率を維持します。
・スマートファクトリー対応
 SECS/GEM、バーコード・2Dコード管理、AGV対応により、自動化ラインへ容易に統合できます。

Item Specifications

対象パッケージ

SO、QFN

対象ストリップサイズ

MAX  300mm × 100mm

測定エリア

MAX  150mm × 100mm

コンタクト方式

ポゴピン、プローブカード

供給

4カセット

収納

4カセット

高温/低温測定

ー55℃~+170℃

冷却・加熱方式

チャックテーブルを冷却または加熱

冷却源

低温空気循環(LN2フリー)またはLN2

加熱源

ヒーターによる直接加熱

温度精度

±1℃(チャックテーブル表面温度)

インデックス

デバイスインデックス:170ms
ストリップインデックス:1.9 sec
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