製品情報
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ストリップフレームテストハンドラ | 多数個同時測定・高温/低温試験対応
5880-IH
5880-IHは、高性能なストリップフレームテストハンドラです。ストリップフレーム上の半導体デバイスを、個片化することなく検査できます。高耐荷重・高精度ステージと高度な位置補正技術の組み合わせにより、多数個同時測定による高スループット検査を実現します。量産工程における生産能力向上と検査コスト削減に貢献し、半導体製造現場の効率化にもつながります。
また、-55℃~+170℃の高温・低温試験にも対応し、信頼性の高い量産検査を実現します。SOパッケージやQFNデバイスのストリップ検査に最適なソリューションとして、高品質な半導体製品の安定供給を支えます。
特徴
・多数個同時測定による高スループット
マルチサイト測定により、量産ラインの生産性を高めます。
・高精度アライメント機能
位置補正・高さ補正技術により、安定したコンタクト品質を維持します。
・高温・低温信頼性試験対応
-55℃~+170℃の温度環境試験に対応し、量産検査における信頼性向上に貢献します。
・JAMフリー搬送
安定したデバイス搬送により、長時間運転でも高い稼働率を維持します。
・スマートファクトリー対応
SECS/GEM、バーコード・2Dコード管理、AGV対応により、自動化ラインへ容易に統合できます。
| Item | Specifications |
対象パッケージ |
SO、QFN |
対象ストリップサイズ |
MAX 300mm × 100mm |
測定エリア |
MAX 150mm × 100mm |
コンタクト方式 |
ポゴピン、プローブカード |
供給 |
4カセット |
収納 |
4カセット |
高温/低温測定 |
ー55℃~+170℃ |
冷却・加熱方式 |
チャックテーブルを冷却または加熱 |
冷却源 |
低温空気循環(LN2フリー)またはLN2 |
加熱源 |
ヒーターによる直接加熱 |
温度精度 |
±1℃(チャックテーブル表面温度) |
インデックス |
デバイスインデックス:170ms ストリップインデックス:1.9 sec |
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Contact
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代表 tel.042-566-1111
8:30 ~ 17:30
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