製品情報

Product

ダイナミックテストシステム

3430-SW

3430-SW

本機は、IGBT/MOSFETのダイナミック特性を高速に試験するためのテストシステムです。
3430-SW本体と各測定項目別に用意された測定ステーションを接続することで、最大4ステーションのパラレル測定が可能となります（標準2ステーション）。
1台のPCでテストシステム全体のコントロールを行ないます。

特徴

・低インピーダンス構造で理想的な波形が再現できます。
・波形解析の高速化により、測定時間を大幅に短縮
　（弊社従来モデル対比）しています。

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 Item

 スイッチングタイム測定 I-Short 測定 trr 測定

VCE

 30 ～ 1,500V

(1V Step)

 30 ～ 1,500V

(1V Step)

 30 ～ 1,500V(1V Step)

IC

 1 ～ 300A(1A Step) 1 ～ 1,000A

(1A Step)

 1 ～ 300A(1A Step)

IC Trip

 1 ～ 300A(1A Step) － 1 ～ 300A(1A Step)

IC max

 1 ～ 1,000A(1A Step) 1 ～ 1,000A

(1A Step)

 1 ～ 1,000A(1A Step)

VGE

 ±30.0V(0.1V Step) ±30.0V

(0.1V Step)

 ±30.0V(0.1V Step)

RG

 1 ～ 250Ω(1Ω Step) 1 ～ 250Ω

(1Ω Step)

 1 ～ 250Ω(1Ω Step)

Pulse

 Single/Double Single Double

T1

 000.1μ ～ 50.0ms

(0.1μs Step)

 000.1 ～ 50.0μs

(0.1μs Step)

 000.1μ ～ 50.0ms

(0.1μs Step)

T2

 000.1 ～ 999.9μs

(0.1μs Step)

 － 000.1 ～ 999.9μs

(0.1μs Step)

T3

 000.1 ～ 999.9μs

(0.1μs Step)

 － 000.1 ～ 999.9μs

(0.1μs Step)

R Load

 Plug in － －

L Load

 Plug in － Plug in

Pre check

 GS Short/Open/Short/
Leak		 GS Short/Open/Short/Leak Vdsf(D.U.T)/ GS Short
/Open/Short/
Leak(Dummy)

Post check

 Leak Leak Leak(Dummy)

Test Item

 td(on)/td(off)/ton/toff/tr/tf/Eon/Eoff/IC0 SC trr/ trr1/ trr2/ Irr/
Qrr/ Qrr1/ Qrr2/
IF/ dIF/dt/ dI(rec)M/dt

Test Time

 230ms 140ms 250ms

DSO

 HDO4104A

(TELEDYNE LECROY)

 － HDO4104A

(TELEDYNE LECROY)
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