4602-LV

4602-LVは、MOSFETをはじめとするパワー半導体デバイスのアバランシェ耐量試験および信頼性評価に対応したUISテスタ（L負荷テスタ）です。誘導負荷ターンオフ時の動作波形を監視し、SOA（Safe Operating Area：安全動作領域）に基づいた評価を行うことで、デバイスの耐久性や品質を高精度に判定します。また、指定電流条件におけるVDS（SUS）測定にも対応し、製品開発から量産品質保証まで幅広い用途で活用できます。
近年、EV（電気自動車）、産業用インバータ、電源機器などで使用されるMOSFETやパワーデバイスは低オン抵抗化と高電流化が進んでおり、従来方式では十分な評価が困難なケースが増えています。4602-LVは新しい測定方式であるVD-OFFモードやTime-Tripモードを採用し、大電流環境下におけるアバランシェ試験を実現します。さらに最大300V、200Aの試験条件に対応し、車載用MOSFETや高信頼性パワー半導体の評価ニーズに応えます。

特徴

・MOSFET・パワー半導体のアバランシェ耐量評価に最適
　誘導負荷ターンオフ時の波形監視とSOA判定により、MOSFETや各種パワーデバイスのアバランシェ耐量を高精度に評価できます。デバイスの信頼性試験や品質保証工程に適した測定環境を提供します。
・最大300V・200Aの大電流測定に対応
　VD-ONモードおよびVD-OFFモードに対応し、最大300V、200Aでの測定が可能です。中耐圧から車載用途のパワーデバイスまで幅広い評価を実現します。
・新測定方式による高電流アバランシェ試験
　VD-OFFモードおよびTime-Tripモードを搭載し、従来方式では対応が難しかった低オン抵抗MOSFETの大電流試験を可能にします。次世代パワー半導体の評価ニーズに対応します。
・多彩な評価機能を搭載
　アバランシェ測定時のピークドレイン電流（IDP）測定、ゲートON時間測定、最大250回のリピート試験など豊富な評価機能を標準搭載しています。
・テスト自動化による作業効率向上
　オプションのプログラマブルコイルやPC制御ソフトウェアにより、テストプログラム作成、データ収集、試験結果管理を効率化し、開発・評価業務の生産性向上に貢献します。
・EV・産業機器向けパワーデバイス評価に対応
　EV向けパワーモジュール、産業用インバータ、モータドライブ、電源機器向けMOSFETなど、高い信頼性が要求されるアプリケーションの評価・試験環境として活用できます。