フィルムフレームテストハンドラ (MAPハンドラ)

5170-IH

5170-IH

5170-IHは、QFN、BGA、WLCSPなどのリードレスデバイスをダイシング後、そのままウェハリング上でテストするハンドラです。高低温測定可能。リング上でテストするため、測定前にビジュアルによる位置補正(x y z θ)をすることにより、デバイスの正確な位置情報とプローブピンの最適な測圧がストリップ上の全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。

特徴

・ハイスループット
・高耐荷重、高推力テーブル
・ストリップ貼り付けエリアを拡大:縦300mm×横300mm以内
 (WLCSPはφ300mm以内)
・バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応
・品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換
・任意のタイミングでソケットをクリーニングできる
 オートクリーニング機構搭載
・8/12インチリングのコンバージョンが可能
・S2/S8規格対応
・SEMI G85準拠
・SECS/GEM対応
・高温測定 155degC度まで、低温測定-45degCまで対応

モデル 5170-IH

対象パッケージ

QFN, DFN, CSP, BGA, BCC, LLP, WLCSP

対象リングサイズ

8 / 12 インチ

測定ステーション数

マルチパラレル

コンタクト方式

ポゴピン、指定コンタクタ

供給

1 カセット(ウェハリング25枚/8インチ、13枚/12インチ収納)

収納

1 カセット(ウェハリング25枚/8インチ、13枚/12インチ収納)

常温/高温測定

5170-IH Version D 常温から+155degC

常温/高温/低温測定

5170-IH Version T ー45から+155degC
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