フィルムフレームテストハンドラ (MAPハンドラ)

5170-IH

5170-IH

5170-IHは、QFN、BGA、WLCSP、パネル(PLP=Panel Level Package)などのリードレスデバイスをダイシング後、そのままウェハリング上でテストするハンドラです。高低温測定可能。リング上でテストするため、測定前にビジュアルによる位置補正(x y z θ)をすることにより、デバイスの正確な位置情報とプローブピンの最適な測圧がストリップ上の全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。

オプションであるパネル用コンバージョンキットを使用することにより、リングを使用せずパネル単体で搬送(測定)することが可能です。

特徴

・ハイスループット
・高耐荷重、高推力テーブル
・ストリップ貼り付けエリアを拡大:縦300mm×横300mm以内
(WLCSPはφ300mm以内)
・パネル搬送オプション 縦300mm×横300mm以内
・パネル単体搬送とリング搬送のコンバージョンが可能
・バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応
・品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換
・任意のタイミングでソケットをクリーニングできる
 オートクリーニング機構搭載
・8/12インチリングのコンバージョンが可能
・CEマーキング対応
・SEMI 規格準拠(S2/S8, G85/E142, SECS/GEM(E5, E30, E37), F47)
・高温測定 155degC度まで、低温測定-45degCまで対応

モデル 5170-IH

対象パッケージ

QFN, DFN, CSP, BGA, LLP, WLCSP, Panel, PLP

対象リングサイズ又はパネルサイズ

リングサイズ: 8 / 12 インチ, パネルサイズ: 300mm x 300mm

測定ステーション数

マルチパラレル

コンタクト方式

ポゴピン、指定コンタクタ

供給

1 カセット(ウェハリング25枚/8インチ、13枚/12インチ収納)

収納

1 カセット(ウェハリング25枚/8インチ、13枚/12インチ収納)

常温/高温測定

5170-IH Version D 常温から+155degC

常温/高温/低温測定

5170-IH Version T ー45から+155degC
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