製品情報
Product
フィルムフレームテストハンドラ (MAPハンドラ)
			                    
            		5170-IH
5170-IHは、QFN、BGA、WLCSP、パネル(PLP=Panel Level Package)などのリードレスデバイスをダイシング後、そのままウェハリング上でテストするハンドラです。高低温測定可能。リング上でテストするため、測定前にビジュアルによる位置補正(x y z θ)をすることにより、デバイスの正確な位置情報とプローブピンの最適な測圧がストリップ上の全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。
オプションであるパネル用コンバージョンキットを使用することにより、リングを使用せずパネル単体で搬送(測定)することが可能です。
特徴
・ハイスループット
・高耐荷重、高推力テーブル
・ストリップ貼り付けエリアを拡大:縦300mm×横300mm以内
 (WLCSPはφ300mm以内)
・パネル搬送オプション 縦300mm×横300mm以内
・パネル単体搬送とリング搬送のコンバージョンが可能
・バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応
・品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換
・任意のタイミングでソケットをクリーニングできる
 オートクリーニング機構搭載
・8/12インチリングのコンバージョンが可能
・CEマーキング対応
・SEMI 規格準拠(S2/S8, G85/E142, SECS/GEM(E5, E30, E37), F47)
・高温測定 155degC度まで、低温測定-45degCまで対応
| モデル | 5170-IH | 
対象パッケージ | 
QFN, DFN, CSP, BGA, LLP, WLCSP, Panel, PLP | 
対象リングサイズ又はパネルサイズ | 
リングサイズ: 8 / 12 インチ, パネルサイズ: 300mm x 300mm | 
測定ステーション数 | 
マルチパラレル | 
コンタクト方式 | 
ポゴピン、指定コンタクタ | 
供給 | 
1 カセット(ウェハリング25枚/8インチ、13枚/12インチ収納) | 
収納 | 
1 カセット(ウェハリング25枚/8インチ、13枚/12インチ収納) | 
常温/高温測定 | 
5170-IH Version D 常温から+155degC | 
常温/高温/低温測定 | 
5170-IH Version T ー45から+155degC | 
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