530-IT

IPD/IPMテストシステム 530-ITはTESECが長年蓄積してきたパワーデバイス測定技術のDNAにICテスタの概念を取り入れた全く新しいコンセプトのテスタです。Logic ICとPower Deviceが融合したパワー半導体（IPD/IPM）をはじめ様々なデバイスを最適に測定する事が可能です。

特徴

・パワーディスクリートデバイス用テスタの測定技術を活用
・最大スペックは2.2kV/67A (最大200A)。
　外部ユニットの追加で拡張も可能。
・パラレル測定（２個同時測定）にも対応
・言語レスで容易なテストプログラム作成（穴埋め方式）
・リーク（漏れ電流）測定の高速化
・多様なバイアス印加波形と印加タイミング