471-TT

471-TT是一款全新概念的直流测试仪，实现了晶圆制程中多颗芯片的同时测量。
该测试仪继承了TESEC在高电压和大电流测量技术方面的优势，通过同时测量多个芯片，与传统测试仪相比大大提高了生产率。
支持雪崩测量*1 的一次通过测试，以满足当今市场的需求。
(*1) 需要专用测量单元，仅适用于 8 并联型号。此外，根据测试条件和测量环境，它可能不适用。

特点

・通过同时测量多个芯片（8 / 16 并行）提高性价比
・1 个测试系统中的直流测量和雪崩测量
・通过局域网连接显着缩短数据传输时间
・更快的继电器切换缩短了测量时间
・通过我们积累的测量技术（最大 2 kV / 20 A）稳定并行测量
・电压和电流限制设置减少了探针上的负载
・自动计算同时测量的芯片数量，使芯片总需要电流低于预先设定的最大适用电流值（探针卡盘的电流容量）