431-TT

该测试系统旨在测量分立半导体器件的静态特性。

1.2KV/130A（CE 为 130 A）测量作为标准提供，可扩展至 2.2 kV / 65 A（CE 为 200 A）。使用可选单元，最大可测量 5 kV / 2000 A。

凭借其高通用性，该测试仪可用于各种应用，例如连接探测器时的晶圆测试和连接处理器时的最终测试。

特点

・VI 源测量模块结构
・1.2 kV / 130 A（高达 2.2 kV / 200 A）测量能力
・高速测量
・多设备测试（同时测量二合一设备，例如 Dual Gate FET2）
・晶圆并行测试（2芯片同时测量）
・屏幕波形监视器
・TESEC的常规大电流单元和高压单元均适用。