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测试机
3430-SW
3430-SW用于测量IGBT/MOSFET器件的动态特性。
具备高速稳定低Ls高等特点，除通常动态测试项目外还具备测试RBSOA/SCSOR/RRSOA的能力。
特点
・低电感结构再现理想波形
・高速波形分析大大缩短了传统模型的测试时间
| 项目 | 开关时间测量 | I-短路测量 | trr测量 |
VCE |
30 ～ 1,500V（步长为 1V） | 30 ～ 1,500V（步长为 1V） | 30 ～ 1,500V （步长为 1V） |
IC了 |
1 ～ 300A（步长为 1A） | 1 ～ 1,000A（步长为 1A） | 1 ～ 300A （步长为 1A） |
IC Trip行 |
1 ～ 300A（步长为 1A） | – | 1 ～ 300A （步长为 1A） |
IC最大值 |
1 ～ 1,000A（步长为 1A） | 1 ～ 1,000A（步长为 1A） | 1 ～ 1,000A （步长为 1A） |
VGE |
±30.0V
（步长为 0.1V） |
±30.0V
（步长为 0.1V） |
±30.0V （步长为 0.1V） |
RG |
1 ～ 250Ω
（步长为 1Ω） |
1 ～ 250Ω
（步长为 1Ω） |
1 ～ 250Ω
（步长为 1Ω ） |
Pulse |
单/双 | 单 | 双 |
T1 |
000.1微秒 ～ 50.0毫秒 （步长为 0.1微秒） |
000.1 ～ 50.0微秒 （步长为 0.1微秒） |
000.1µ ～ 50.0毫秒 （步长为 0.1微秒） |
T2 |
000.1 ～ 999.9微秒 （步长为 0.1微秒） |
– | 000.1 ～ 999.9微秒 （步长为 0.1微秒） |
T3 |
000.1 ～ 999.9微秒 （步长为 0.1微秒） |
– | 000.1 ～ 999.9微秒 （步长为 0.1微秒） |
R Load |
插入 | – | – |
L Road |
插入 | – | 插入 |
Pre-Check |
GS 短路/开路/短路/泄漏 | GS 短路/开路/短路/泄漏 | Vdsf (DUT)/ GS 短路 /开路/短路/ 泄漏（虚拟） |
Post-Check票 |
漏电 | 漏电 | 漏电(模拟) |
测试项目 |
td(开)/td(关)/ton/toff/tr/tf/ Eon/Eoff/IC0 |
SC | trr/ trr1/ trr2/ Irr/ Qrr/ Qrr1/ Qrr2/IF/ dIF/dt/ dI (rec)M/dt |
测试时间 |
230毫秒 | 140毫秒 | 250毫秒 |
DOS |
HDO4104A (TELEDYNE LECROY) |
– | HDO4104A (TELEDYNE LECROY) |
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代表tel.042-566-1111
8:30 ～ 17:30
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