4408-KT

4408-KT 是一款用于高精度测量以 GaN HEMT 为代表的下一代功率半导体器件瞬态热阻（Transient Thermal Resistance）的热特性评估系统。利用随温度变化而产生的 VGS 变化量（ΔVGS）评估热阻特性，定量分析器件的发热特性及散热性能。它是适用于 GaN 功率器件的研发、质量保证以及量产工序中热特性评估的最佳解决方案。
在电动汽车电源系统、高效功率转换器以及工业设备用 GaN 功率器件等高密度封装不断推进的半导体市场中，热设计的重要性日益提高。4408-KT 能快速且高精度地测量热阻（Rth）及温升量（ΔT），助力提升器件性能与可靠性。

特点

・支持 GaN HEMT 的瞬态热阻评估
　利用 ΔVGS 进行高灵敏度测量，高精度评估 GaN 器件的热特性。
・自动计算热阻（Rth）与温升量（ΔT）
　根据测量结果计算热阻值和温升量，提高评估工作效率。
・支持功率器件的热设计与可靠性评估
　广泛覆盖从开发阶段的热分析到量产时的质量管理。
・与 TESEC 制 DC 测试仪联动
　结合现有 DC 测试系统，构建高效的评估环境。
・支持外部控制与数据采集
　通过 GPIB 及 RS-232C 接口，可轻松嵌入自动化评估系统。

■ 软件选件示例
・基于 PC 的测试仪控制软件
　（测试程序创建、数据采集、计数器采集）
・使用功能检查单元的测量数据采集软件