测试机

4408-KT

4408-KT

4408-KT 设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。
测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。

特点

・测量结果显示在前面板显示屏上
・可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果
・热阻Rth可显示为计算结果
・多重测试功能
・60 可存储测试程序
・接触检查/开路,短路检查
・振荡检测
・可以通过 TESEC DC 测试仪控制操作
・门限电压可设定,并配备器件过热保护电路
・GP-IB/RS-232C 接口使外部设备能够控制该测试仪
・可以连接功能检查单元(4321-AB)(选项)

■ 可选软件示例
・从 PC 控制测试仪的软件
(测试程序创建、数据收集和计数器收集)
・使用功能检查单元收集测量数据的软件

项目 规格

漏极电流 (ID)

00.01~20.00 A

测量电流 (IM)

000.1~999.9 mA

栅极电压 (VGS)

00.1~10.0 V

栅极限制电压 (GATE-L)

01.0~10.0 V

通电时间 (PT)T

100 微秒~30.0 秒

延迟时间 (DT)

010~999 微秒

上限/下限

000.0~999.9 mV

VDS

01.0~70.0 V

测量范围

VGS1 0000.0~2000.0 mV
ΔVGS 0000.0~999.9 mV(分辨率 0.1 mV)
  • Contact

  • 代表tel.042-566-1111

    8:30 ~ 17:30